Sisältö
Läpäisyelektronimikroskooppi (TEM) ja pyyhkäisyelektronimikroskooppi (SEM) ovat mikroskooppimenetelmät erittäin pienten näytteiden katselemiseksi. TEM: ää ja SEM: ää voidaan verrata näytteiden valmistusmenetelmissä ja kunkin tekniikan sovelluksissa.
TEM
Molemmat tyyppiset elektronimikroskoopit pommittavat näytettä elektronilla. TEM sopii esineiden sisäpuolen tutkimiseen. Värjäys antaa kontrastin ja leikkaus tarjoaa erittäin ohuet näytteet tutkittavaksi. TEM soveltuu hyvin virusten, solujen ja kudosten tutkimiseen.
SEM
SEM: n tutkimat näytteet vaativat johtavaa päällystettä, kuten kulta-palladiumia, hiiltä tai platinaa ylimääräisten elektronien keräämiseksi, jotka peittäisivät kuvan. SEM sopii hyvin kohteiden, kuten makromolekyylisten aggregaattien ja kudosten, pintaan katsomiseen.
TEM-prosessi
Elektroni-ase tuottaa elektronivirran, joka keskittyy lauhdutinlinssiin. Kondensoitunut säde ja lähetetyt elektronit keskittyvät objektiivilinssillä kuvaksi fosforikuvanäytössä. Tummemat kuvan alueet osoittavat, että vähemmän elektronia läpäisi ja että nämä alueet ovat paksumpia.
SEM-prosessi
Kuten TEM, linssi tuottaa ja kondensoi elektronisuihkun. Tämä on kurssilinssi SEM: ssä. Toinen linssi muodostaa elektronit tiukkaksi, ohueksi sädeksi. Sarja keloja skannaa säteen samalla tavalla kuin televisio. Kolmas linssi ohjaa säteen näytön haluttuun osaan. Palkki voi asettua määrätyssä pisteessä. Säde voi skannata koko näytteen 30 kertaa sekunnissa.